2016年7月18日，受电子科技大学国际合作与国际教育委员会主任、电子科技大学科学技术委员会副主任、电子科技大学系统可靠性与安全性研究中心主任黄洪钟教授的邀请，台湾国立清华大学Sheng-Tsaing Tseng教授等3人到我研究中心进行学术访问。黄洪钟教授首先代表研究中心全体师生对三位学者的到访表示热烈的欢迎，随后介绍了他们的个人履历、研究背景以及学术成就等。

　　台湾国立清华大学Sheng-Tsaing Tseng教授作了题为“Joint Modelling of Lab and Field Data with Application to Warranty Prediction for Hightly Reliable ICT Products”的学术报告。该研究基于当多个产品有类似的设计并且每个产品有离散型实验数据和连续型现场数据的情况下，如何对现场返修率做出精确预测。此外Sheng-Tsaing Tseng教授在所建立的层次模型的基础上，对实验失效数据和现场数据进行有效的结合，通过实际案例分析展示了该方法可进一步显著改善现场返修率预计。

　　紧接着，台湾中央大学Tsai-Hung Fan教授作了题为“Bayesian Reliability Analysis of Accelarated Gamma Degration Processes with Random Effects”的学术报告。报告内容介绍了在时间尺度下当具有随机效应时，对基于伽马过程的加速退化试验采用贝叶斯方法进行分析研究。首先，采用混合先验分布确定时域变换的参数，其次，通过对模型潜在参数后验样本的描述，有效地对在正常使用条件下的失效时间分布进行可靠性推断，这些潜在参数可通过马尔可夫链蒙特卡罗仿真方法获得。最后，Tsai-Hung Fan教授将所提出的方法运用到LED光强度数据集中，验证了该方法的可行性。

　　最后台湾中央研究院统计科学研究所Chien-Yu Peng副研究员作了题为“Measurement Errors and Degration Analysis”的学术报告。本研究基于独立增量退化过程，同时考虑到产品之间多样性、同批次产品之间随机性和退化数据测量误差等特点。本研究采用了准蒙特卡罗型方法和并行计算机等技术对模型参数进行有效的估计。

　　黄洪钟教授主持了该次学术报告会，许焕卫、孟德彪、彭卫文等老师以及研究中心的博士和硕士研究生聆听了此次报告。

　　在本次学术报告中，三位主讲人做了全面的分析论述，同时，结合自己多年的研究工作及经验，阐述了对若干前沿问题的认识与看法，为研究中心师生的相关研究工作提供了宝贵经验与观点。报告持续了近2个半小时，三位学者的学术报告内容丰富、深入浅出、思路清晰，老师和同学们都收获颇多。彭卫文博士、谢朝阳博士研究生和彭兆春博士研究生都提问讨论。其中彭卫文博士在会上与各位学者进行了精彩交流，将此次报告会推向高潮！最后，报告会在师生们热烈的掌声中圆满结束。

　　当日下午，三位学者与研究中心师生进行了座谈，座谈会内容丰富，精彩叠叠！经过一天的交流，三位学者深受研究中心师生喜爱！此次三位台湾学者来研究中心作学术报告不仅加强了双方学术交流，更加让彼此了解了两岸文化，收获颇丰。

(硕士研究生张凯延供稿)