应电子科技大学可靠性工程研究所所长黄洪钟教授邀请，国际可靠性工程领域著名学者、三星电子技术顾问委员会成员、韩国首尔大学（Seoul National University）Byeng D. Youn教授于7月27日对可靠性工程研究所进行了为期2天的学术访问，并为全所师生做了题为“Prognostics and Health Management （PHM）for Engineered System”和“Statistical Model Verification & Validation”的学术报告。

　　学术报告由黄洪钟教授主持。黄老师首先代表可靠性工程研究所师生对Youn教授的到访表示诚挚的欢迎，并介绍其个人履历、研究背景以及学术成就。学术报告期间，Youn教授以核电汽轮机为应用对象，对其状态监测及健康管理等问题展开了全面的分析，详细介绍了机械系统状态监测、健康诊断、健康管理以及其相关领域的最新研究进展，并展示了其领导的研究团队所取得的成果。Youn教授丰富、新颖的报告内容得到了全所师生的广泛共鸣。

　　访问期间，Youn教授博士参观了可靠性工程研究所师生日常科研、实验以及办公场所，详细了解了近年来可靠性工程研究所承担的国家自然科学基金项目、国家863计划项目、973计划项目、国家04重大科技专项项目等进展情况。Youn教授对可靠性工程研究所良好的科研氛围以及学术实力给予了高度的评价，并热忱欢迎可靠性工程研究所师生前往Seoul National University学术访问、交流和继续深造，为进一步展开全面合作奠定了基础。

(硕士生叶培莲供稿)