2018年5月2日晚7点，第二百零九期工程可靠性论坛在电子科技大学主楼C1-411如期举行。可靠性工程论坛由电子科技大学系统可靠性与安全性研究中心主任黄洪钟教授创立，长期以来可靠性工程论坛的定期召开不仅提高了研究中心团队师生的学术水平，增进了团队师生之间的学术交流，促进了团队师生学术水平的提高，也提高了整个团队的凝聚力。可靠性工程论坛现已成为研究中心师生定期展示科研成果与学术交流的重要平台。

      本次工程可靠性论坛由硕士研究生余奥迪主持，由硕士研究生张凯延和黄思思分别做学术报告。

      在本次学术报告之前，主持人余奥迪为大家介绍了“电子血栓”的危害及其病因，建议各位老师和同学在学习和科研当中要注意自己的身体，不要久坐在电脑前，使用电脑1小时就应该休息片刻，起身走动，伸伸胳膊踢踢腿，活动踝关节，拉伸小腿肌肉。

      随后学术汇报交流正式开始，硕士研究生张凯延做了题为“Weibull分布下定时截尾试验技术及其无失效数据Bayes可靠性分析”的学术报告。报告分为三个部分，第一部分就基于威布尔分布的定时截尾试验统计方案设计、有替换和无替换定时截尾试验的参数估计、有替换定时截尾试验方案设计和无替换定时截尾试验方案设计这几个方面进行讲解；第二部分主要讲解基于Bayes方法的无失效数据点估计；第三部分讲解的是基于秩分布理论的无失效数据区间估计。

      紧接着，硕士研究生黄思思带来了题为“航天关键功率电子器件IGBT筛选技术研究”的报告，报告首先对IGBT筛选技术理论基础做了简要阐述，随后就IGBT基于FMEA及仿真的薄弱环节确定、IGBT筛选试验设计及剖面验证、IGBT基于加速寿命试验的可靠性分析三方面内容进行了详细的介绍说明，最后针对IGBT筛选技术提出了后续的展望。

      在提问环节，各位同学踊跃提问，积极与报告人进行探讨，提出了自己的疑问和意见。

      最后，第二百零九期工程可靠性论坛再热烈的掌声中结束。