2017年4月10日晚7点，第一百八十工程期可靠性论坛在电子科技大学主楼C1-411如期举行。工程可靠性论坛由电子科技大学系统可靠性与安全性研究中心主任黄洪钟教授创立，长期以来工程可靠性论坛的定期召开不仅提高了可靠性工程研究所团队师生的学术水平，增进了团队师生之间的学术交流，促进了团队师生学术水平的提高，也提高了整个团队的凝聚力。工程可靠性论坛现已成为研究中心师生定期展示科研成果与学术交流的重要平台。

　　本次工程可靠性论坛由硕士研究生胡聪主持，由硕士研究生叶培莲和雷强分别作学术报告。　　

　　在正式学术报告之前，主持人胡聪以“武汉小吃”为话题，向同学们展开聊了聊关于自己家乡武汉小吃的味道，以及向同学们介绍了几种比较有特色的武汉小吃。

　　随后学术交流正式开始，硕士研究生叶培莲做了题为“基于失效物理的多芯片组件可靠性分析”的报告。其内容包括：概述了课题研究背景及意义，简要介绍了基于失效物理分析的多芯片组件可靠性建模方法流程，以及考虑多失效模式的竞争失效建模方法，MCM可靠性试验方法，最后分析总结了目前的工作及对后续工作的展望。

　　接下来由硕士研究生雷强做题为“发动机涡轮盘的概率蠕变-疲劳寿命预测”的学术报告。该报告的主要内容是：相关知识的简要介绍，考虑平均应力及棘轮效应疲劳寿命预测模型，涡轮盘结构有限元分析与疲劳寿命预测，随机载荷作用下的涡轮盘概率寿命预测，随机载荷作用下的涡轮盘可靠性分析，以及对研究内容作了总结与展望。

　　最后，在提问环节，各位同学踊跃提问，积极与两位报告人进行探讨，提出自己的疑问和意见。黄洪钟教授也分别对报告作了点评与建议，希望同学们认真的分析、思考各自研究领域的相关概念，认真研读相关文献，以对相关理论有更准确的理解。

　　最后，第一百八十期工程可靠性论坛在热烈的掌声中圆满结束。

（硕士研究生胡聪供稿、硕士研究生张遂川摄影）